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UNE-EN IEC 60749-5:2024  UNE

Estado: Vigente / 2024-03-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo continuo de duración de vida bajo temperatura y humedad con polarización. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2024.)

UNE-EN IEC 62228-3:2019/AC:2023-07  UNE

Estado: Vigente / 2023-08-01

Circuitos integrados. Evaluación de compatibilidad electromagnética (CEM) de los transceptores. Parte 3: Transceptores CAN. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2023.)

UNE-EN IEC 61967-8:2023  UNE

Estado: Vigente / 2023-07-01

Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas. Parte 8: Medición de las emisiones radiadas. Método IC de líneas TEM de placas. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2023.)

UNE-EN IEC 63287-2:2023  UNE

Estado: Vigente / 2023-06-01

Dispositivos semiconductores. Directrices de calificación de semiconductores genéricos. Parte 2: Concepto de perfil de misión (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2023.)

UNE-EN IEC 63364-1:2023  UNE

Estado: Vigente / 2023-03-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos semiconductores para el sistema IOT. Parte 1: Método de ensayo de detección de variación acústica. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2023.)

UNE-EN IEC 60747-16-8:2023  UNE

Estado: Vigente / 2023-02-01

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-8: Circuitos integrados de microondas. Limitadores (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2023.)

UNE-EN IEC 60747-16-7:2023  UNE

Estado: Vigente / 2023-02-01

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-7: Circuitos integrados de microondas. Atenuadores (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2023.)

UNE-EN IEC 60749-37:2022  UNE

Estado: Vigente / 2023-01-01

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 37: Método de ensayo de caída a nivel de tarjeta para componentes usando un acelerómetro. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2023.)

UNE-EN IEC 60749-10:2022  UNE

Estado: Vigente / 2022-07-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico. Dispositivo y submontaje. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2022.)

UNE-EN IEC 63373:2022  UNE

Estado: Vigente / 2022-05-01

Directrices del método de ensayo de resistencia dinámica para dispositivos de conversión de energía basados en GaN HEMT (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2022.)

UNE-EN IEC 60749-28:2022  UNE

Estado: Vigente / 2022-05-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 28: Ensayo de la sensibilidad a la descarga electrostática. Modelo de dispositivo cargado- Nivel de dispositivo. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2022.)

UNE-EN IEC 60749-39:2022  UNE

Estado: Vigente / 2022-03-01

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 39: Medida de la difusividad de la humedad y solubilidad en agua en materiales orgánicos para componentes semiconductores. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2022.)

UNE-EN IEC 63244-1:2021  UNE

Estado: Vigente / 2021-12-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos semiconductores para transferencia y carga inalámbrica de energía. Parte 1: Requisitos y especificaciones generales. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2021.)

UNE-EN IEC 63287-1:2021  UNE

Estado: Vigente / 2021-11-01

Dispositivos semiconductores. Directrices de calificación de semiconductores genéricos. Parte 1: Guías para la calificación de fiabilidad de circuitos integrados. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2021.)

UNE-EN IEC 62435-9:2021  UNE

Estado: Vigente / 2021-11-01

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 9: Casos especiales (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2021.)

UNE-EN IEC 61967-4:2021  UNE

Estado: Vigente / 2021-06-01

Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas. Parte 4 Mediciones de emisiones conducidas, método de acoplamiento directo 1 ohm/150 ohm. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2021.)

UNE-EN IEC 62435-7:2021  UNE

Estado: Vigente / 2021-04-01

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 7: Dispositivos micro-electromecánicos (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en abril de 2021.)

UNE-EN IEC 60747-17:2020/AC:2021-02  UNE

Estado: Vigente / 2021-03-01

Dispositivos semiconductores. Parte 17: Acoplador magnético y capacitivo para aislamiento básico y reforzado. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2021.)

UNE-EN IEC 60747-17:2020  UNE

Estado: Vigente / 2021-01-01

Dispositivos semiconductores. Parte 17: Acoplador magnético y capacitivo para aislamiento básico y reforzado. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2021.)

UNE-EN IEC 60749-15:2020  UNE

Estado: Vigente / 2020-11-01

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 15: Resistencia a la temperatura de soldadura para dispositivos montados con agujeros pasantes. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2020.)

UNE-EN IEC 60749-30:2020  UNE

Estado: Vigente / 2020-11-01

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 30: Preacondicionamiento de dispositivos de montaje superficial no herméticos antes de su ensayo de fiabilidad. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2020.)

UNE-EN IEC 60749-20:2020  UNE

Estado: Vigente / 2020-11-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 20: Resistencia de los dispositivos de montaje superficial (SMD) encapsulados en plástico al efecto combinado de humedad y de calor de soldadura. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2020.)

UNE-EN IEC 60747-5-5:2020  UNE

Estado: Vigente / 2020-10-01

Dispositivos semiconductores. Parte 5-5: Dispositivos optoelectrónicos. Fotoacopladores. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2020.)

UNE-EN 60747-16-5:2013/A1:2020  UNE

Estado: Vigente / 2020-10-01

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas. Osciladores. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2020.)

UNE-EN IEC 60749-41:2020  UNE

Estado: Vigente / 2020-10-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 41: Métodos de ensayo estándar de fiabilidad de dispositivos de memoria no volátiles (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2020.)

UNE-EN IEC 62435-8:2020  UNE

Estado: Vigente / 2020-10-01

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 8: Dispositivos electrónicos pasivos (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2020.)

UNE-EN IEC 62435-3:2020  UNE

Estado: Vigente / 2020-06-01

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 3: Datos (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2020.)

UNE-EN IEC 60747-16-6:2019  UNE

Estado: Vigente / 2019-10-01

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-6: Circuitos integrados de microondas. Multiplicadores de frecuencia (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2019.)

UNE-EN IEC 60749-18:2019  UNE

Estado: Vigente / 2019-07-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 18: Radiación ionizante (dosis total) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2019.)

UNE-EN IEC 60749-17:2019  UNE

Estado: Vigente / 2019-06-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 17: Irradiación de neutrones. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2019.)

UNE-EN IEC 61967-1:2019  UNE

Estado: Vigente / 2019-03-01

Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas. Parte 1: Definiciones y condiciones generales. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2019.)

UNE-EN IEC 62435-6:2018  UNE

Estado: Vigente / 2018-12-01

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 6: Dispositivos empaquetados o terminados (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2018.)

UNE-EN IEC 62969-4:2018  UNE

Estado: Vigente / 2018-10-01

Dispositivos semiconductores. Interfaz de semiconductores para vehículos automóviles. Parte 4: Método de evaluación de la interfaz de datos para sensores de vehículos de automoción (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2018.)

UNE-EN IEC 62435-4:2018  UNE

Estado: Vigente / 2018-09-01

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 4: Almacenamiento. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en septiembre de 2018.)

UNE-EN IEC 62969-3:2018  UNE

Estado: Vigente / 2018-08-01

Dispositivos semiconductores. Interfaz de semiconductores para vehículos automóviles. Parte 3: Captación de energía piezoeléctrica impulsada por choque para sensores de vehículos automóviles (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2018.)

UNE-EN IEC 62969-2:2018  UNE

Estado: Vigente / 2018-06-01

Dispositivos semiconductores. Interfaz de semiconductores para vehículos automóviles. Parte 2: Métodos de evaluación de la eficiencia de la transmisión de energía inalámbrica utilizando la resonancia para sensores de vehículos automóviles (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2018.)

UNE-EN 60191-4:2014/A1:2018  UNE

Estado: Vigente / 2018-06-01

Normalización mecánica de dispositivos semiconductores. Parte 4: Sistema de codificación y clasificación para los tipos y formas de los encapsulados de dispositivos semiconductores. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2018.)

UNE-EN IEC 60749-26:2018  UNE

Estado: Vigente / 2018-05-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 26: Ensayo de la sensibilidad a la descarga electrostática (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2018.)

UNE-EN IEC 60191-1:2018  UNE

Estado: Vigente / 2018-05-01

Normalización mecánica de dispositivos semiconductores. Parte 1: Requisitos generales para la preparación de esquemas de dispositivos discretos. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2018.)

UNE-EN IEC 60749-13:2018  UNE

Estado: Vigente / 2018-05-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 13: Atmósfera salina. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2018.)

UNE-EN IEC 60749-12:2018  UNE

Estado: Vigente / 2018-04-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibraciones, frecuencias variables. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en abril de 2018.)

UNE-EN IEC 62969-1:2018  UNE

Estado: Vigente / 2018-03-01

Dispositivos semiconductores. Interfaz de semiconductores para vehículos automóviles. Parte 1: Requisitos generales de interfaz de alimentación para los sensores del vehículo automóvil (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2018.)

UNE-EN 60747-16-3:2002/A2:2017  UNE

Estado: Vigente / 2018-01-01

Dispositivos semiconductores. Parte 16-3: Circuitos impresos de microondas. Convertidores de frecuencia. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2018.)

UNE-EN 60747-16-4:2004/A2:2017  UNE

Estado: Vigente / 2017-12-01

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-4: Circuitos integrados de microondas. Interruptores (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2017.)

UNE-EN 60749-43:2017  UNE

Estado: Vigente / 2017-10-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 43: Directrices para los planes de cualificación de fiabilidad de circuitos integrados (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2017.)

UNE-EN 60749-5:2017  UNE

Estado: Vigente / 2017-08-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo continuo de duración de vida bajo temperatura y humedad con polarización. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2017.)

UNE-EN 60749-28:2017  UNE

Estado: Vigente / 2017-08-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 28: Ensayo de la sensibilidad a la descarga electrostática. Modelo de dispositivo cargado- Nivel de dispositivo. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2017.)

UNE-EN 60749-9:2017  UNE

Estado: Vigente / 2017-07-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 9: Permanencia del marcado. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)

UNE-EN 60747-16-1:2002/A2:2017  UNE

Estado: Vigente / 2017-07-01

Dispositivos semiconductores. Parte 16-1: Circuitos impresos de microondas. Amplificadores. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)

UNE-EN 60749-6:2017  UNE

Estado: Vigente / 2017-07-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)